北京朗時(shí)云帆科技有限公司

產(chǎn)品品牌
 
線(xiàn)纜加工測(cè)試
 
微組裝設(shè)備工藝
 
WT產(chǎn)品——X射線(xiàn)檢測(cè)
 
SAT產(chǎn)品——超聲掃描檢測(cè)
 
PIND產(chǎn)品——多余物檢測(cè)
 
Sensofar產(chǎn)品-光學(xué)顯微鏡
 
EMC產(chǎn)品——輻射抗擾測(cè)試系統(tǒng)
 
Diener產(chǎn)品——等離子清洗
 
HEC產(chǎn)品——電容器件
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超聲波掃描檢測(cè)設(shè)備
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  通過(guò)組合頻率達(dá)到500MHz的靈敏度組件、掃描儀與日立開(kāi)發(fā)的高分辨率探頭,可以檢測(cè)的間距為0.5μm。進(jìn)一步波形分析、測(cè)量、剝離判定、深度信息等分析軟件。過(guò)采用掃描儀予以及新型圖像處理單元,掃描速度1000mm/s的掃描儀。

  重視使用的便利性和安全性,可以裝卸兩側(cè)的大型窗、led照明、探頭識(shí)別功能(根據(jù)不同的機(jī)型作為標(biāo)準(zhǔn)配置)、電源開(kāi)關(guān)的保護(hù)蓋、前面透明面板,并設(shè)置有傳感器等。

X-Ray檢測(cè)設(shè)備
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Phoenix v|tome|x L300 是一款多功能高分辨率微焦點(diǎn) X 射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng),具有 2D 和3D 計(jì)算機(jī)斷層掃描(微米 CT)以及 2D 無(wú)損檢測(cè)功能。系統(tǒng)配備了 300 kV/500 W 的微焦點(diǎn)射線(xiàn)源,以及承載樣品重量達(dá) 50 kg和直徑達(dá) 500 mm 的超高精度掃描平臺(tái)。該系統(tǒng)為復(fù)合材料、鑄件和精密零部件(例如:注塑?chē)娮旌蜏u輪葉片)的孔隙分析、裂紋檢測(cè)和 3D 測(cè)量(例如:首件樣品檢測(cè))提供了一個(gè)解決方案。

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀

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       PINDParticle Impact Noise Detection,TRANSMST   中文名:顆粒碰撞噪聲檢測(cè))用于電子元器件封裝后,對(duì)器件內(nèi)多余粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn),目的在于檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,是一種非破壞性實(shí)驗(yàn)。用來(lái)測(cè)試電器零件從而提高電器零件的可靠性。PIND常用于檢測(cè)集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。本PIND試驗(yàn)根據(jù)被測(cè)器件類(lèi)型不同依據(jù)不同的國(guó)軍標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)。如:半導(dǎo)體類(lèi)器件常采用GJB548B標(biāo)準(zhǔn)(根據(jù)DUT的腔體尺寸選擇對(duì)應(yīng)的震動(dòng)頻率,沖擊脈沖峰值為9800m/s1960m/s2);繼電器類(lèi)器件常采用GJB65B標(biāo)準(zhǔn)(最佳軸線(xiàn)方向振動(dòng)頻率:27Hz,40Hz100Hz,振幅:49m/s2,沖擊等級(jí):1960m/s2最大1ms)。

      目前,由于大部分元器件生產(chǎn)工藝達(dá)不到理想水平,所以多余物問(wèn)題逐漸被成為備受關(guān)注的問(wèn)題。由此,不得不引入一道篩選工序——PIND試驗(yàn)。

Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀(共聚焦+白光干涉)
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    Sensofar研發(fā)的neox光學(xué)輪廓儀,其共聚焦部分的主要優(yōu)點(diǎn)是有著發(fā)光效率的明硬件和高對(duì)比度算法。這些特點(diǎn)使系統(tǒng)成為測(cè)量有著陡峭斜面、粗糙的、反光表面和含有種材料樣品的理想設(shè)備。高品質(zhì)干涉光學(xué)系統(tǒng)和集成壓電掃描器是干涉輪廓儀部分的關(guān)鍵。這項(xiàng)技術(shù)對(duì)于測(cè)量非常光滑適度粗糙的表面比較理想。這些技術(shù)的組合為neox輪廓儀提的應(yīng)用領(lǐng)域。


Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀

可用于標(biāo)準(zhǔn)的明場(chǎng)彩色顯微成像、共焦成像、三維共焦建模、PSI、VSI及高分辨率薄膜厚度測(cè)量。沒(méi)有移動(dòng)部件使其擁有堅(jiān)固而緊湊的設(shè)計(jì),同時(shí)也使得該探頭適合很多OEM應(yīng)用。簡(jiǎn)單的、符合人體工程學(xué)的軟件界面使用戶(hù)獲得非??斓臏y(cè)量速度,只需方便地切換適當(dāng)?shù)奈镧R,調(diào)焦,并選擇適當(dāng)?shù)牟杉J郊纯伞?/span>



關(guān)于我們

   

      北京朗時(shí)云帆科技有限公司成立于2010年,致力于幫助電力、工業(yè)、科研和基礎(chǔ)設(shè)施等領(lǐng)域客戶(hù)提高業(yè)績(jī),提供技術(shù)、產(chǎn)品和解決方案。公司同國(guó)內(nèi)眾多高校和科研單位有多次深入合作,以一流的產(chǎn)品解決方案贏(yíng)得用戶(hù)的認(rèn)可。

     公司為用戶(hù)提供測(cè)試方案、設(shè)備、系統(tǒng)軟件等服務(wù)。公司以技術(shù)為先導(dǎo),以產(chǎn)品為核心,發(fā)揮人才優(yōu)勢(shì),為用戶(hù)提供咨詢(xún)、系統(tǒng)集成及整體解決方案服務(wù),長(zhǎng)期積極致力于科研、政府、安全、電信、電力、制造等眾多領(lǐng)域信息化建設(shè)。      我們對(duì)客戶(hù)和合作伙伴堅(jiān)守公平、誠(chéng)實(shí)、守信的專(zhuān)業(yè)信條;我們?yōu)閱T工營(yíng)造忠誠(chéng)、坦誠(chéng)、平等、開(kāi)放、務(wù)實(shí)的工作氛圍。      公司主營(yíng)產(chǎn)品有微組裝設(shè)備、CT檢測(cè)設(shè)備、顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀、WEETECH線(xiàn)纜測(cè)試儀、裝置多余物檢測(cè)、X-RAY半導(dǎo)體檢測(cè)、線(xiàn)束線(xiàn)纜檢測(cè)、超聲波掃描顯微鏡、原GE PHOENIX X射線(xiàn)檢測(cè)機(jī)、DPA試驗(yàn)、工業(yè)CT、PIND、C-SAM等,業(yè)務(wù)范圍覆蓋北京、江蘇、浙江、山東、河南、湖北、四川、陜西等全國(guó)各地。
新聞動(dòng)態(tài)
     當(dāng)可靠性分析成為電子器件的重要指標(biāo),半導(dǎo)體水汽含量檢測(cè)也就應(yīng)運(yùn)而生,它通過(guò)四級(jí)質(zhì)譜分析儀對(duì)氣體進(jìn)行識(shí)別,并分析其濃度,具有很高的靈敏度和分辨率,真空腔體也保證了檢測(cè)數(shù)據(jù)的可靠性。同時(shí),可對(duì)微電子元件和多芯片模塊、電子元器件、光纖設(shè)備和傳感器、起搏器和其他醫(yī)療設(shè)備、大型電子設(shè)備和單元,陶瓷雙列直插式器件,扁平封裝和TO封裝等多種模塊進(jìn)行檢測(cè),增大了檢測(cè)范圍。
密封腔體內(nèi)部的水汽是造成電子元器件失效的主要原因之一,而軍標(biāo)規(guī)定在100℃下的內(nèi)部水汽含量不得超過(guò)5000ppm。長(zhǎng)期研究發(fā)現(xiàn),符合軍用標(biāo)準(zhǔn)的密封元器件,在幾個(gè)月的貯存期后,其內(nèi)部的水汽含量普遍可能超標(biāo),從而影響電子元器件的可靠性,進(jìn)而影響到整機(jī)設(shè)備長(zhǎng)期使用的可靠性。所以,對(duì)于電子元器件內(nèi)的水汽含量檢測(cè)就顯得非常重要。半導(dǎo)體水汽含量檢測(cè)儀專(zhuān)為密封包裝、空腔和其他外殼內(nèi)所含水汽等的定量分析而設(shè)...
工業(yè)CT技術(shù),是根據(jù)X射線(xiàn)等穿透物體后得到的投影數(shù)據(jù),由相應(yīng)的數(shù)學(xué)算法,再由計(jì)算機(jī)處理,將物體特定層面上的二維圖像進(jìn)行建模重建,并依據(jù)重建后的二維圖像構(gòu)成三維圖像的技術(shù),它主要包括射線(xiàn)源、機(jī)械掃描運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、探測(cè)器和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)等部件。在航空航天領(lǐng)域,對(duì)零部件的質(zhì)量要求更高,因此工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)技術(shù)的應(yīng)用也顯得尤為重要,其中包括:① 材料內(nèi)部缺陷的檢測(cè);② 對(duì)零部件結(jié)構(gòu)尺寸進(jìn)行測(cè)量;③ 對(duì)問(wèn)題產(chǎn)...
工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)應(yīng)用需求隨著工業(yè)技術(shù)的不段發(fā)展,X射線(xiàn)和CT的需求也在無(wú)損檢測(cè)區(qū)域不斷擴(kuò)大。使用工業(yè)CT,可以從3D視角對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),從而完成產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的分析。同時(shí),我們的微焦點(diǎn)系統(tǒng)可以為用戶(hù)提供更加詳細(xì)且準(zhǔn)確的視圖,兼容更精密和更微小的器件,同時(shí)保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性。如果您有工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)的需求和應(yīng)用,我司將竭誠(chéng)為您提供設(shè)備和服務(wù),以滿(mǎn)足您的檢測(cè)需求。
在中國(guó),也會(huì)逐漸工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的技術(shù)應(yīng)用。CT檢測(cè)設(shè)備進(jìn)一步發(fā)展已成為重要的先進(jìn)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。1.無(wú)損檢測(cè)范圍:ICT測(cè)試對(duì)象。若能傳遞鋼的厚度,檢測(cè)工件的大旋轉(zhuǎn)直徑,檢測(cè)工件的高度或長(zhǎng)度,檢測(cè)工件的重量。2.使用的射線(xiàn)源:X輻射能量、工作電壓、工作電流和聚焦尺寸。3.ICT掃描方法:采用哪種掃描方法,是否具有數(shù)字射線(xiàn)檢測(cè)或?qū)崟r(shí)成像等功能。4.掃描探測(cè)時(shí)間:指掃描斷層數(shù)據(jù)采集時(shí)間。5.圖像...
盡管超聲波掃描顯微鏡家族中的后起之秀,但由于其自身的許多特殊優(yōu)勢(shì),發(fā)展速度非常快。1.儀器分辨率高,可以通過(guò)二次電子圖像觀(guān)察樣品表面6nm采用左右細(xì)節(jié)LaB6.電子槍可以進(jìn)一步增加到3nm。2.儀器放大范圍大,可連續(xù)調(diào)整。因此,可以根據(jù)需要選擇不同大小的視場(chǎng)進(jìn)行觀(guān)察。同時(shí),在高放大倍數(shù)下,還可以獲得高亮度的清晰圖像,這是普通透射電子顯微鏡難以實(shí)現(xiàn)的。3.觀(guān)察樣品的景深和大視場(chǎng),圖像具有立體感...
隨著小型化、輕量級(jí)、高工作頻率、高可靠性的電子產(chǎn)品繼續(xù)占據(jù)消費(fèi)者市場(chǎng),電子元件逐漸進(jìn)入高密度、高功能、微型化、多引腳、間距狹窄的發(fā)展階段,對(duì)微裝配技術(shù)的要求越來(lái)越高。電子微裝配技術(shù)是一種新型的電子裝配和包裝技術(shù)。什么是微組裝技術(shù)?結(jié)合各種先進(jìn)制造領(lǐng)域的定義和觀(guān)點(diǎn),微裝配技術(shù)主要由表面貼紙組成(SMT),混合集成電路(HIC)技術(shù)和多芯片模塊(MCM)技術(shù)組成。一般來(lái)說(shuō),微裝配技術(shù)采用高密度多...
超聲波掃描顯微鏡的性能和用途:掃描頻率可達(dá)2G。掃描分辨率0.1微米。掃描范圍為0.25mm*0.25mm。超聲波掃描顯微鏡是一種非破壞性檢測(cè)組件的完整性、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料內(nèi)部狀況的儀器。作為無(wú)損檢測(cè)分析之一,可以在不破壞材料電氣性能和保持結(jié)構(gòu)完整性的情況下檢測(cè)材料。廣泛應(yīng)用于材料檢驗(yàn)(IQC),失效分析(FA),質(zhì)量控制(QC),質(zhì)量保證和可靠性(QA/REL),研發(fā)(R&D))等領(lǐng)域??蓹z...